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Descripción
- Imágenes de alta resolución con alto contraste de materiales de siguiente generación (por ejemplo estructuras catalizadoras, nanotubos, nanopartículas y otras estructuras a nanoescala)
- Excelente plataforma adecuada para metrología SEM/STEM a escala subnanométrica.
- Rápida configuración del haz de electrones – las óptimas condiciones de imagen están garantizadas por In-Flight Beam Tracing™
- Sistema multidetector TriBE™ and TriSE™ para nanocaracterización de muestras.
- Software intuitivo de plataforma modular diseñada para operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de habilidad de los usuarios.
