Descripción
SEM analítico para caracterización de rutina de materiales, investigación y aplicaciones de control de calidad a escala de micras.
El Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) de 4ta generación VEGA de TESCAN con fuente de electrones de filamento de tungsteno combina imágenes SEM con análisis de composición elemental en vivo en única ventana del software Essence™ de TESCAN. Esta combinación simplifica significativamente la adquisición de datos de la muestra tanto morfológicos como elementales, lo que convierte a VEGA SEM en una solución analítica eficiente para la inspección rutinaria de materiales en control de calidad y análisis de fallas en laboratorios de investigación.
- Plataforma analítica EDS con TESCAN Essence™ totalmente integrada, que combina de manera eficiente las imágenes SEM con el análisis de composición elemental en una sola ventana del software Essence™.
- Imágenes óptimas y condiciones analíticas disponibles de inmediato gracias al exclusivo diseño óptico sin apertura de TESCAN con tecnología In-flight Beam Tracing™.
- Navegación SEM en la muestra precisa y sin esfuerzo con aumentos de hasta 2× sin necesidad de cámara de navegación óptica adicional debido al exclusivo diseño Wide Field Optics™.
- Modo SingleVac™ como característica estándar para la observación de carga en muestras sensibles al haz.
- Software Essence™ intuitivo y modular diseñado para una operación sin esfuerzo, independientemente del nivel de experiencia del usuario.
- Máxima seguridad de los detectores montados en cámara cuando el escenario y la muestra están en movimiento garantizadas con el modelo Essence™ 3D Colisión.
- Disponibilidad de detectores opcionales SE y BSE en columna, incluyendo tecnología de desaceleración de haz para mejorar el rendimiento de la imagen a voltajes de aceleración más bajos.
- Plataforma analítica modular que puede equiparse opcionalmente con la más amplia selección de detectores totalmente integrados (por ejemplo, CL, BSE refrigerado por agua o espectrómetro RAMAN).
