Descripción
MiniFlex XpC: permite mediciones rápidas, precisas y es fácil de operar gracias a su interfaz amigable.
La difracción de rayos X (XRD) es una poderosa y bien establecida técnica para el análisis de materiales. El MiniFlex XpC se puede configurar con una cinta transportadora o un robot para el procesamiento automatizado de muestras y la colaboración con otros instrumentos. Con una fuente de rayos X de 800 W y un goniómetro de diámetro corto, el sistema tiene el rendimiento de una unidad de laboratorio y, por tanto, puede mejorar considerablemente el rendimiento de las mediciones de control de calidad.
Principales características:
• Fuente de rayos X compacto de 800 W.
• Goniómetro horizontal de muestra θ-θ.
• Tubo de rayos X de cerámica moldeado compacto.
• Detector 1D de alta resolución y alta velocidad con una amplia área de detección.
• Software operado desde panel táctil.
• Capaz de conectarse con un robot de carga de muestras.
Las mediciones especializadas que se pueden hacer son:
• % de cristalinidad
• Tamaño y tensión del cristalito
• Refinamiento de parámetros de red
• Refinamiento de Rietveld para la caracterización estructural
Para mayor información, no dude en contactarse con nosotros o hacer click en «Hacer una consulta sobre este producto» (en la parte superior) y gustosos lo antenderemos.
Página web de Rigaku: www.rigaku.com
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